Рентгеновский измерения напряжений в измерении изменений напряжений в дифракционной картине характеризуется как мера деформации. Макроскопические напряжения равномерно распределены в широком диапазоне объектов, однородные рабочие характеристики штамма, генерируемого в том же диапазоне для каждого направления в пределах расстояния кристаллической решетки с таким же названием в одних и тех же изменений, в результате чего в определенном направлении к смещению дифракционной линии, которая является измерения рентгеновского стресс макро Основой; микроскопических напряжений между зернами даже раздел внутри зерен между различными друг от друга, неравномерное производительность штамма, произведенного решетки увеличивается в определенных областях, определенные области решетки, чтобы снизить цену портативного анализатора сплава, в результате чего смещения дифракционных линий в различных направлениях диффундировать дифракции уширение линии, которая является основой рентгеновского микроскопического измерения напряжения. Ультра-микроскопическое штамм стресс отклоняются от положения равновесия в регионе, чтобы сделать атомную портативный анализатор сплава, что приводит к ослаблению дифракционных линий, это может быть измерено изменениями в ультра-микроскопического интенсивности стресс рентгеновского. Стресс, как правило, измеряется дифрактометре. Текстурированный поликристаллический материал вдоль определенного направления сегрегации явления, известного как текстурированной анализатора сплава, общая текстура имеет волокнистую текстуру и настольные виды текстур. Чтобы отразить текстурированной профиля и определения индекса текстуры, есть три способа, чтобы описать структуру: полюсные фигуры, обратную поул фигуру и трехмерную функцию ориентации, эти три метода, пригодных для различных ситуаций. Для волоконной структурой, вы знаете его чрезвычайно графический сплава анализатор, сколько цена, при условии, что расчетный показатель, чтобы найти свою ось проволоки, ксерографию и Дифрактометр доступные методы. Совет распределение текстурированной полюс более сложным и требует два индекса для представления, и многоцелевой дифрактометр измеряется. ? След образца требуется около 15 мг, особенно ценное для меньшего образца или образца тестирования, например, археология, судебно, трубопроводов от коррозии анализа. Сколько сплава анализатор, анализатор сплавов, технологии Рейли Рейли обеспечивается технологией. Если у вас есть вопросы или консультации этой информации, пожалуйста, свяжитесь с нами сейчас! Наша Название компании: Shenzhen Рейли Технология Девелопмент Ко (www.inov-x.com) Контакты: Мисс Тан, или нажмите "Commercial Union обслуживания клиентов" прямого диалога с нами!