[] Рентгеновской дифракции, рентгеновской дифракции технологии Ибинь, Рейли Рейли обеспечивается Шэньчжэнь науке и технике. Рейли Технология Девелопмент Ко, Лтд города Шэньчжэнь (www.inov-x.com) были "сертификация Бизнес Лига", пожалуйста, будьте уверены, покупки через всю сеть, нажмите на чеке страницу "Иконы сертификации Бизнес Лига" Мой информации аутентификации компании. Вы также можете нажать на "Бизнес-Альянс Сервис Иконы" на этой странице непосредственно обратиться в нашу Службу! Рентгеновской дифракции является использование теории дифракции, точного определения кристаллической структуры материала, текстуры и стресса, анализа точного поведение фазы, качественного анализа, количественного анализа. Широко используется в металлургии, нефтяной, химической, научных исследований, аэрокосмической, образования, производства материалов и т.д. влияют на размер выборки частиц экспериментальных результатов для того, чтобы более полно проиллюстрировать степень влияния размера частиц на результатах испытаний, проведенных Ибинь рентгеновской дифракции, мы выбираем Badain Jaran Desert во Внутренней Монголии от поверхности минеральных образцов для объектов анализа. используя Rigaku (RIGAKU) производства тестовой D / Max2400 мульти-кристалл рентгеновской дифракции .cu цели (λ = 0 154 056 нм), напряжения на трубке 40 кВ, ток трубки 60 мА, скорость сканирования 10 град. / мин Чэнду рентгеновский дифрактометр, шаги 0 02 °, DS (расхождение щели) = SS (анти-разброс щели) = 1 °, RS (прием щель) = 0 3 мм. соответственно полностью молотые и просеивают образцы, образцы от мала до велика тонкости были 45,48,58,75,150μm 5 уровней, в результате дифракции рентгеновских лучей анализ результатов, показанных на рисунке 1. Как видно из рисунка, размер частиц 150 мкм слабых образец дифракции рентгеновских лучей дифракционных пиков, наиболее сильным дифракции подложки, содержание слабой части образца вещества, которое не заметен из дифракционных пиков для размером частиц 75,58, Образцы 48 и 45 мкм Мяньян рентгеновский дифрактометр, с уменьшением размера частиц, интенсивность дифракционного пика становится все больше и больше, дифракционные пики микроэлементов ингредиентов постепенно стать сильным определение размера зерна и искажения решетки, если поликристаллический материал Зерна без искажений, достаточно большой, порошковой дифракции, которые теоретически быть особенно острые линии, но в реальном эксперименте, линия не могут быть видны. Это потому, что объединенное влияние факторов и физических факторов, таких как инструмента, так, что чисто дифракции уширение линии. Чистая спектральная форма линии и ширина определяется средним размером зерен образца, распределения по размерам, а также большой недостаток в кристаллической решетке, поэтому линии для правильного анализа, вы можете получить вышеупомянутые факторы, как характер и масштабы информации о принципах . ? Детектор трассировки тестовый образец только 15mg, особенно подходит для обнаружения и анализа уголовного расследования, экологических, взрывчатых веществ, коррозии труб и других сложных для сбора образцов.