[] _ Рентгеновской дифракции рентгеновской дифракции _ Фучжоу, Шэньчжэнь науке и технике обеспечивается технологией Рейли Рейли. Рейли Технология Девелопмент Ко, Лтд города Шэньчжэнь (www.inov-x.com) были "сертификация Бизнес Лига", пожалуйста, будьте уверены, покупки через всю сеть, нажмите на чеке страницу "Бизнес Лига значок сертификации", компания информация для проверки подлинности. Вы также можете нажать на "Бизнес-лиги услуг Иконы" на этой странице непосредственно свяжитесь с нашими редакторами! Обзор кристаллических материалов, Рентгеновский метод дифракции идеально подходит очень эффективным, и для жидкостей и аморфных тел Хэчжоу рентгеновской дифракции, этот метод может также обеспечить многие основные важные данные. Таким образом, дифракции рентгеновских лучей исследование твердый считается наиболее эффективным инструментом. В различных экспериментальных методов есть монокристаллического дифракционный метод, поликристаллический и дважды рентгеноструктурного метода дифракции Фучжоу, основной подход. Фокус сочетает геометрическую принцип гониометра [4], результаты анализа дифракции, в случае только с держателем образца, заполненного уровня поверхности образца для того, чтобы гарантировать, что поверхность образца в процессе сканирования и фокус всегда по касательной к окружности, так что поверхность образца и Фокус круг имеет ту же кривизну, детектор получает краткий процесс сканирования, чтобы использовать больше дифракции, тем самым повышая интенсивность дифракционных линий, повысить точность измерений. Таким образом, заполнить образец и держатель образца дифракционный пик интенсивности максимальный уровень, Форма пика и наиболее Octavia, обратно в конце самым слабым, в то время как большинство образцов выше и ниже при заполнении держатель образца самолета (HK не удовлетворены гониометр фокусировки геометрические принципы, сканирующий зондовый получил сигнал является слабым Таким образом, производительность дифракционной картины слабее пиковая интенсивность и выше задняя часть. эти два вида выборочных методов погрузки наши измерения должны попытаться избежать. измерение рентгеновского измерения напряжений стресса, чтобы изменить характеристики дифракционной картины как измерения деформации. макроскопического стресс равномерно распределенный в более широком диапазоне объекта, даже для того же штамма, генерируемого в диапазоне производительности том же направлении, кристаллических зерен с одноименным названием изменений дистанционирующих, что привело к направлению перемещения дифракционной линии, которая является X Макро-лучей измерение напряжения основа; микроскопический стресс среди кристаллических зерен зерна или отличаются друг от друга между частями, чтобы произвести равномерную деформацию увеличивает производительность межплоскостного некоторых областях, некоторые области на уменьшение шага плоскость, в результате чего смещение дифракционных линий в разных направлениях гостевой рентгеновской дифракции, диффузный это расширило дифракционной линии, которая является основой рентгеновского измерения напряжений микроскопического ультра микроскопического стресса в регионе, чтобы сделать отклонение атомной деформации от положения равновесия, в результате чего ослаблению дифракционных линий, Поэтому напряжение можно измерить с помощью ультра-микроскопических изменений в интенсивности рентгеновского излучения. измерения напряжений в целом по дифрактометра.