Точное определение параметров решетки базовой структуры постоянной решетки рентгеновского параметров дифракционных Shuyang кристаллического материала, постоянная решетки была измерена в твердых исследований фазовых превращений для определения типа раствора, растворимость кривая твердого раствора измеряли термины, коэффициент теплового расширения были применены . Решетки определяется путем измерения положения дифракции рентгеновских лучей линии (θ) получают путем измерения положения дифракционной картины дифракции каждой линии постоянного значения решетки могут быть получены. ? Автоматизированная использовании устройства образец вибрации, устраняя необходимость в традиционном настольном гониометра, пробоподготовки легче, не поворачивая испытательного гониометра и других механических компонентов, проста в использовании, без профессиональной работы, более высокую степень автоматизации. . Рентгеновский измерения напряжения к измерению напряжения меняется характерный дифракционную картину в качестве меры деформации. Макроскопическая стресс равномерно распределены в широком диапазоне объектов в Dafeng рентгеновской дифракции, равномерной деформации в диапазоне производительности, сформировавшего в том же направлении с тем же именем каждом варианте расстояние зерна Хэфэй же дифракции рентгеновских лучей, в результате чего линии дифракции на направление перемещения, который является основой рентгеновского стресс измерения макроса; микроскопические стресса среди кристаллических зерен зерна или отличаются друг от друга между частями, чтобы произвести однородная деформация показал некоторые области межплоскостным увеличивается дистанционирующих, в некоторых районах уменьшаем шаг, в результате чего смещения дифракционных линий в различных направлениях рентгеновской дифракции, диффузный это расширило дифракционной линии, которая является основой рентгеновского измерения микроскопических стресса. Ультра-микроскопическое штамм стресс сделать атомную отклонение от положения равновесия в регионе, что привело к ослаблению дифракционных линий, ультра-микроскопические стресс может быть измерено изменениями в интенсивности рентгеновского излучения. Стресс, как правило, измеряется дифрактометра. Рентгеновской дифракции _ Шэньчжэнь Рейли Технология _ Shuyang обеспечивается дифракции рентгеновских лучей технологии Рейли. Рейли Технология Девелопмент Ко, Лтд города Шэньчжэнь (www.inov-x.com) в рудном анализатора, анализатора сплава, анализаторы окружающей среды, портативный ГХ-МС и других отраслей промышленности имеют высокую видимость, управление целостностью, как качество обслуживания, Добро пожаловать на запрос или обратитесь в наш "Бизнес-лиги вызов" его!